產(chǎn)品分類(lèi)
Product CategorySuperViewW微觀形貌幾何尺寸光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。
SuperViewW光學(xué)納米級(jí)光學(xué)表面粗糙度測(cè)量?jī)x利用光學(xué)干涉原理,具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。
SuperViewW非接觸光學(xué)3D表面粗糙度輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)。
中圖儀器SuperViewW中圖精密光學(xué)粗糙度輪廓一體機(jī)以白光干涉技術(shù)為原理,能以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
SuperViewW中圖國(guó)產(chǎn)3d輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,3D非接觸式測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
?SuperViewW中圖儀器白光干涉儀光學(xué)輪廓儀品牌基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車(chē)零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
中圖儀器SuperViewW3D顯微形貌與粗糙度光學(xué)輪廓儀通過(guò)干涉物鏡產(chǎn)生干涉條紋,使基本的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮孑喞獌x。設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能。
SuperViewW非接觸式表面粗糙度光學(xué)輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
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